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Modeling the Impact of NBTI on the Reliability of Arithmetic Circuits

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Verfasserangaben:V. Camargo, M. da Silva, L. Brusamarello, G. Wirth, P. Glösekötter
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Chip In The Pampa SBCCI
Dokumentart:Beitrag in einem Buch (Kapitel)
Sprache:Englisch
Jahr der Fertigstellung:2008
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Datum der Freischaltung:11.01.2019
Auflage:September 1-4, SFORU
Fachbereiche:Elektrotechnik und Informatik (ETI)
Publikationsliste:Glösekötter, Peter
Lizenz (Deutsch):License LogoBibliographische Daten