Device Degradation and Resilient Computing
| Verfasserangaben: | P. Glösekötter, U. Greveler, G. I. Wirth |
|---|---|
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | IEEE International Symposium on Circuits and Systems |
| Verlagsort: | Seattle, USA |
| Dokumentart: | Beitrag in einem Buch (Kapitel) |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Fertigstellung: | 2008 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2008 |
| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
| Auflage: | May 18-21 |
| Fachbereiche: | Elektrotechnik und Informatik (ETI) |
| Publikationsliste: | Glösekötter, Peter |
| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |