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Resonant Magnetic Reflection Coefficients measured with Linearly and Circularly Polarized Light
(2002)
Mertins, H.-Ch.
;
Abramsohn, D.
;
Gaupp, A.
;
Schäfers, F.
;
Gudat, W.
;
Zaharko, O.
;
Grimmer, H.
;
Oppeneer, P. M.
Optical Components for Polarization Analysis at the Vanadium L3 Edge and the Carbon K Edge
(2002)
Grimmer, H.
;
Zaharko, O.
;
Horisberger, M.
;
Mertins, H.-Ch.
;
Schäers, F.
Soft X--Ray Resonant Magnetic Reflectivity of Gd/Tm Multilayers
(2002)
Meltchakov, E.
;
Mertins, H.-Ch.
;
Scheer, M.
;
Di Fonzo, S.
;
Jark, W.
;
Schäfers, F.
Soft X--Ray Magneto--Optical Constants at the Fe 2p edge determined by Bragg Scattering and Faraday--effect
(2002)
Mertins, H.-Ch.
;
Zaharko, O.
;
Gaupp, A.
;
Schäfers, F.
;
Abramsohn, D.
;
Grimmer, H.
Resonant Magnetic Scattering and soft X--Ray L--MOKE from Co/Cu Multilayers investigated by Resonant X--Ray Scattering
(2002)
Hecker, M.
;
Muschiol, U.
;
Schneider, C. M.
;
Mertins, H.-Ch.
;
Abramsohn, D.
;
Schäfers, F.
Soft X--Ray Resonant Magnetic Reflectivity of Gd/Fe Multilayers
(2002)
Meltchakov, E.
;
Mertins, H.-Ch.
;
Scheer, M.
;
Di Fonzo, S.
;
Jark, W.
;
Schäfers, F.
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