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Schulze, Werner (1)
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DLTS Characterization of Proton Implanted Silicon under Varying Annealing Conditions
(2014)
Johannes, G.
;
Laven, Moriz
;
Jelinek, Reinhart
;
Job, Hans-Joachim
;
Schulze, Werner
;
Schustereder, Stefan
;
Kirnstötter, Mathias
;
Rommel, Lothar
1
bis
1