Evaluation of Capacitance-Voltage Spectroscopy by Correlation with Minority Carrier Lifetime Measurements of PECV-Deposited Intrinsic Amorphous Layers
| Verfasserangaben: | Sebastian Gerke, Axel Herguth, Nils Brinkmann, Giso Hahn, Reinhart Job |
|---|---|
| ISBN: | 3-936338-33-7 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of the 28th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition |
| Dokumenttyp: | Beitrag in einem Buch (Kapitel) |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Fertigstellung: | 2013 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
| Erste Seite: | 2600 |
| Letzte Seite: | 2603 |
| Fachbereiche: | Elektrotechnik und Informatik (ETI) |
| Publikationsliste: | Job, Reinhart |
| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |
