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Influence of post hydrogenation upon electrical, optical and structural properties of hydrogen less sputter deposited amorphous silicon

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Verfasserangaben:Sebastian Gerke, H.-W. Becker, D. Rogalla, F. Singer, N. Brinkmann, S Fritz, Adnan Hammud, P. Keller, D. Skorka, D. Sommer, C. Weiß, S. Flege, Giso Hahn, Reinhard Job, Barbara Terheiden
DOI:https://doi.org/10.1016/j.tsf.2015.11.063
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Thin Solid Films
Dokumentart:Beitrag in einer (wissenschaftlichen) Zeitschrift
Sprache:Englisch
Jahr der Fertigstellung:2016
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
Datum der Freischaltung:11.01.2019
Band / Jahrgang:598
Erste Seite:161
Letzte Seite:169
Fachbereiche:Elektrotechnik und Informatik (ETI)
Publikationsliste:Job, Reinhart
Lizenz (Deutsch):License LogoBibliographische Daten