Effective Pattern Representation for Safety Critical Embedded Systems
| Verfasserangaben: | A. Armoush, F. Salewski, S. Kowalewski |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1109/CSSE.2008.739 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proc. 2008 International Conference on Computer Science and Software Engineering, vol. 4 |
| Verlag: | IEEE CS |
| Dokumentart: | Beitrag in einem Buch (Kapitel) |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Fertigstellung: | 2008 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2008 |
| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
| Erste Seite: | 91 |
| Letzte Seite: | 97 |
| Fachbereiche: | Elektrotechnik und Informatik (ETI) |
| Publikationsliste: | Salewski, Falk |
| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |