Capacitance-voltage spectroscopy and analysis of dielectric intrinsic amorphous silicon thin films
| Verfasserangaben: | Sebastian Gerke, Gabriel Micard, Reinhart Job, Giso Hahn, Barbara Terheiden |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1002/pssc.201600019 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Physica Status Solidi (c) |
| Dokumentart: | Beitrag in einer (wissenschaftlichen) Zeitschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Fertigstellung: | 2016 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
| Erste Seite: | 1 |
| Letzte Seite: | 5 |
| Fachbereiche: | Elektrotechnik und Informatik (ETI) |
| Publikationsliste: | Job, Reinhart |
| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |