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Soft-X-ray refractive index by reconciling total-electron-yield with specular reflection: Experimental determination of the optical constants of graphite

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Verfasserangaben:C. Jansing, H. Wahab, H. Timmers, A. Gaupp, H.-Ch. Mertins
DOI:https://doi.org/10.1107/S1600577518010408
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):J. Synchr. Rad.
Dokumentart:Beitrag in einer (wissenschaftlichen) Zeitschrift
Sprache:Englisch
Jahr der Fertigstellung:2018
Jahr der Erstveröffentlichung:2018
Datum der Freischaltung:11.01.2019
Band / Jahrgang:25
Erste Seite:1433
Letzte Seite:1443
Fachbereiche:Physikingenieurwesen (PHY)
Publikationsliste:Mertins, Hans-Christoph
Lizenz (Deutsch):License LogoBibliographische Daten