The identification and characterization of carbonaceous interface layers of graphene using polarization--dependent X--ray reflectometry
| Verfasserangaben: | H. Wahab, C. Jansing, H.-Ch. Mertins, H. J. Kim, S.-H. Choi, A. Gaupp, H. Timmers |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1016/j.carbon.2018.05.021 |
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Carbon |
| Dokumentart: | Beitrag in einer (wissenschaftlichen) Zeitschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Fertigstellung: | 2018 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
| Band / Jahrgang: | 137 |
| Erste Seite: | 252 |
| Letzte Seite: | 265 |
| Fachbereiche: | Physikingenieurwesen (PHY) |
| Publikationsliste: | Mertins, Hans-Christoph |
| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |