Thickness, roughness and electronic structure characterisation of graphene using soft x-ray reflection spectroscopy DPG Meeting Berlin, O 33.9
C. Jansing, H. Wahab, M. F. Tesch, M. Gilbert, A. Gaupp, H.-Ch. Mertins, A. Sokolov, Dong Hee Shin, Suk-Ho Choi, H. Timmers, D. Legut, P. M. Oppeneer
Metadaten| Verfasserangaben: | C. Jansing, H. Wahab, M. F. Tesch, M. Gilbert, A. Gaupp, H.-Ch. Mertins, A. Sokolov, Dong Hee Shin, Suk-Ho Choi, H. Timmers, D. Legut, P. M. Oppeneer |
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| Dokumentart: | Vortrag (unveröffentlicht) |
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| Sprache: | Englisch |
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| Jahr der Fertigstellung: | 2015 |
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| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2015 |
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| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
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| Fachbereiche: | Physikingenieurwesen (PHY) |
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| Publikationsliste: | Mertins, Hans-Christoph |
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| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |
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