Soft X-ray magnetic reflection spectroscopy at the 3p absorption edges of thin Fe films
| Verfasserangaben: | M. Hecker, P. M. Oppeneer, S. Valencia, H.-Ch. Mertins, C. M. Schneider |
|---|---|
| Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena |
| Dokumentart: | Beitrag in einer (wissenschaftlichen) Zeitschrift |
| Sprache: | Englisch |
| Jahr der Fertigstellung: | 2005 |
| Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
| Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
| Band / Jahrgang: | 144 - 147 |
| Erste Seite: | 881 |
| Letzte Seite: | 884 |
| Fachbereiche: | Physikingenieurwesen (PHY) |
| Publikationsliste: | Mertins, Hans-Christoph |
| Lizenz (Deutsch): |  Bibliographische Daten |