Soft-X-ray refractive index by reconciling total-electron-yield with specular reflection: Experimental determination of the optical constants of graphite
Verfasserangaben: | C. Jansing, H. Wahab, H. Timmers, A. Gaupp, H.-Ch. Mertins |
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DOI: | https://doi.org/10.1107/S1600577518010408 |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | J. Synchr. Rad. |
Dokumentart: | Beitrag in einer (wissenschaftlichen) Zeitschrift |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Fertigstellung: | 2018 |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Datum der Freischaltung: | 11.01.2019 |
Band / Jahrgang: | 25 |
Erste Seite: | 1433 |
Letzte Seite: | 1443 |
Fachbereiche: | Physikingenieurwesen (PHY) |
Publikationsliste: | Mertins, Hans-Christoph |
Lizenz (Deutsch): | Bibliographische Daten |