TY  - GEN
A1  - Legut, D.
A1  - Oppeneer, P. M.
A1  - Jansing, C.
A1  - Tesch, M. F.
A1  - Gilbert, M.
A1  - Gaupp, A.
A1  - Mertins, H.-Ch.
A1  - Sokolov, A.
A1  - Choi, Suk-Ho
A1  - Wahab, H.
A1  - Timmers, H.
A1  - Elliman, R. G.
T1  - Ab initio calculation of XNLD in reflection of graphene\ DPG Meeting Berlin, O87.13
Y1  - 2015
ER  - 
TY  - GEN
A1  - Jansing, C.
A1  - Tesch, M. F.
A1  - Gilbert, M.
A1  - Gaupp, A.
A1  - Mertins, H.-Ch.
A1  - Sokolov, A.
A1  - Shin, Dong Hee
A1  - Choi, Suk-Ho
A1  - Timmers, H.
A1  - Legut, D.
A1  - Oppeneer, P. M.
T1  - Observation of Natural X-Ray Birefringence of Graphene,  DPG Meeting Berlin, O 28.6
Y1  - 2015
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TY  - GEN
A1  - Jansing, C.
A1  - Wahab, H.
A1  - Tesch, M. F.
A1  - Gilbert, M.
A1  - Gaupp, A.
A1  - Mertins, H.-Ch.
A1  - Sokolov, A.
A1  - Shin, Dong Hee
A1  - Choi, Suk-Ho
A1  - Timmers, H.
A1  - Legut, D.
A1  - Oppeneer, P. M.
T1  - Thickness, roughness and electronic structure characterisation of graphene using soft x-ray reflection spectroscopy DPG Meeting Berlin, O 33.9
Y1  - 2015
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TY  - GEN
A1  - Jansing, C.
A1  - Gilbert, M.
A1  - Gaupp, A.
A1  - Mertins, H.-Ch.
A1  - Tesch, M.
A1  - Sokolov, A.
A1  - Choi, Suk-Ho
A1  - Elliman, R. G.
A1  - Timmers, H.
A1  - Legut, D.
A1  - Oppeneer, P. M.
T1  - Investigation of the Natural X--Ray Birefringence of Graphene by Polarization Spectroscopy XAFS 16, Intern. Conference on X--Ray Absorption Fine Structure, Karlsruhe, Germany, 23. -- 28.Sep.
Y1  - 2015
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